装置一覧

FCC機器分析・管理支援室の共用分析装置のご利用にあたり、不明な点がございましたら、各装置の管理担当者へご連絡ください。

核磁気共鳴装置(NMR)

◆400MHz NMR     (4台)

【装置メーカー】  日本電子 株式会社

【分光計】 JNM-ECS , JNM-ECX

【データシステム】 Delta v4 , v5

【プローブ】 5mmφ 溶液専用

【担当】 木村 s-kimura□eng.hokudai.ac.jp
(□を@に変更してください)

 

◆500MHz NMR (1台)

【装置メーカー】Bruker

【分光計 AVANCE NEO 500

【データシステム】  TopSpin4.7
【プローブ】 固体測定用 3.2mm MASプローブ(31P-15N)

                        固体測定用 3.2mm MASプローブ(15N-109Ag)

固体測定用 2.5mm Tri:gamma プロープ

【担当】       中川 nakagawa□eng.hokudai.ac.jp

(□を@に変更してください)

◆600MHz NMR

【装置メーカー】日本電子 株式会社

【分光計】 JNM-ECZ600R

【データシステム】 Delta V5.2

【プローブ】 5mm FG/RO HFXデジタルチューナブルプローブ
3mm FG/HXプローブ
3mm FG/THプローブ
【担当】      木村 s-kimura□eng.hokudai.ac.jp
(□を@に変更してください)

 

質量分析計

◆ガスクロマトグラフ質量分析計(GC-MS)

【装置メーカー】日本電子 株式会社

【機種】 JMS-Q1050

【イオン化法】 EI、PI、DIP、DEP
【利用料】 年度内装置維持費を利用時間に応じて徴収
【担当】      栗城 kuriki□jimu.hokudai.ac.jp
(□を@に変更してください)

 

◆マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量計(MALDI) → 2020年11月11日 利用停止

【装置メーカー】Bruker

【機種】 microflex-HOLT
装置故障のため、利用を停止することとなりました。(2020年11月11日)
【利用法】 利用希望者はターゲットプレートを事前購入し
利用者自身がサンプル調整を行う。
【利用料】 年度内装置維持費を利用時間に応じて徴収
【担当】      木村 s-kimura□eng.hokudai.ac.jp
(□を@に変更してください)

 

分光計

◆フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR)

【装置メーカー】日本分光株式会社

【機種】  FTIR4700
【付属品】 1回反射ATR (ZnSe)
高感度反射測定装置RAS
【利用料】 年度内装置維持費を利用時間に応じて徴収
【担当】      木村 s-kimura□eng.hokudai.ac.jp
(□を@に変更してください)

 

 

◆ラマン顕微鏡

【装置メーカー】日本分光株式会社

【機種】 XploRA
【利用料】 年度内装置維持費を利用時間に応じて徴収
【担当】      栗城 kuriki□jimu.hokudai.ac.jp
(□を@に変更してください)

 

 

◆誘導結合プラズマ発光分光分析装置(ICP)

【装置メーカー】島津製作所

【機種】 ICPE9000
【利用料】 年度内装置維持費を利用時間に応じて徴収
【担当】      栗城 kuriki□jimu.hokudai.ac.jp
(□を@に変更してください)

 

 

◆円二色性分散計(CD)

【装置メーカー】日本分光株式会社

【機種】 XploRA
【利用料】 年度内装置維持費を利用時間に応じて徴収
【担当】      栗城 kuriki□jimu.hokudai.ac.jp
(□を@に変更してください)

 

 

その他

◆グロー放電発光装置(GDOES)

【装置メーカー】堀場製作所

【機種】 JY-5000RF

【スパッタリング用ガス】 Ar,  Ar+O2 , Ne
【利用料】 ¥2,000 / hour
【担当】      木村 s-kimura□eng.hokudai.ac.jp
(□を@に変更してください)

 

◆示差走査熱量計(DSC)

【装置メーカー】SETARAM

【機種】 MicroDSCⅦEVO
【利用料】 年度内装置維持費を利用時間に応じて徴収
【担当】      栗城 kuriki□jimu.hokudai.ac.jp
(□を@に変更してください)

 

 

◆オートマチックダイシングソー

【装置メーカー】DISCO

【機種】 DAD322
【利用料】 年度内装置維持費を利用時間に応じて徴収
【担当】      栗城 kuriki□jimu.hokudai.ac.jp
(□を@に変更してください)

 

 

 

 

◆走査顕微鏡/(SEM)

【装置メーカー】日立ハイテク

【機種】 SU1510
【利用料】 年度内装置維持費を利用時間に応じて徴収
【担当】      栗城 kuriki□jimu.hokudai.ac.jp
(□を@に変更してください)